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SD2000老化測(cè)試系統(tǒng)提供對(duì)MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲(chǔ)器等超大規(guī)模集成電路的高低溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試，將老化與電參數(shù)測(cè)試結(jié)合，在老化過(guò)程中可測(cè)試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。
老化測(cè)試系統(tǒng)提供對(duì)X波段大功率微波管的高低溫動(dòng)態(tài)老化，該器件額定電壓70V、脈沖電流140A、功率為1500W和4500W、激勵(lì)的射頻信號(hào)為8-10GHZ。
DC/DC電源模塊參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)聚集了多年電子測(cè)試經(jīng)驗(yàn)和專業(yè)知識(shí)，是可靠、精準(zhǔn)、自動(dòng)、高效的電源測(cè)試系統(tǒng)。模塊化的硬件架構(gòu)能夠提供靈活多變的硬件組合，系統(tǒng)配置更為合理，系統(tǒng)包括程控電源供應(yīng)器、電子負(fù)載、數(shù)字萬(wàn)用表、示波 器等，在硬件上真正滿足任何形式的電源模塊測(cè)試要求。
半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)采用了標(biāo)準(zhǔn)的PXI總線，能夠兼容CPCI和PXI設(shè)備。它是一款浮動(dòng)資源的測(cè)試工作站，這種特殊的架構(gòu)方式使得用戶可以有效的利用系統(tǒng)資源，配置出經(jīng)濟(jì)、高效的測(cè)試系統(tǒng)。測(cè)試原理符合相的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。
大規(guī)模集成電路測(cè)試系統(tǒng)具備高性價(jià)比，高吞吐量的集成電路測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)， 外形尺寸600mmx750mm x 600mm（TBD），最高配置512個(gè)通道，為實(shí)燕室開(kāi)發(fā)或大批量生產(chǎn)的理想選擇。
集成電路測(cè)試系統(tǒng)采用機(jī)柜加電纜結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)可兼容各種類型的機(jī)械手、探針臺(tái)以及外掛其他儀表等設(shè)備。SD1000（系列）測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)試數(shù)字信號(hào)芯片、模擬信號(hào)芯片、混合信號(hào)芯片等IC器件，是可降低集成電路測(cè)試成本的高性價(jià)比集成電路測(cè)試機(jī)。
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