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SD6200采用相同架構，充分利用了數(shù)模混合集成電路中的現(xiàn)有資源，使得射頻測試部分即能獨立工作，以低成本提供射頻測試能力，又能與數(shù)模混合集成電路測試系統(tǒng)整合為統(tǒng)一機臺，為市場提供高性能的混合、射頻測試系統(tǒng)。
采用相同架構，充分利用了數(shù)模混合集成電路中的現(xiàn)有資源，使得射頻測試部分即能獨立工作，以低成本提供射頻測試能力，又能與數(shù)模混合集成電路測試系統(tǒng)整合為統(tǒng)一機臺，為市場提供高性能的混合、射頻測試系統(tǒng)。
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